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Minority-carrier injection-enhanced recovery of radiation-induced defects in $$n$$$$^{+}$$$$p$$ AlInGaP solar cells

少数キャリア注入による$$n$$$$^{+}$$$$p$$ AlInGaP太陽電池中の照射欠陥の回復増進

Lee, H. S.*; 山口 真史*; Ekins-Daukes, N. J.*; Khan, A.*; 高本 達也*; 今泉 充*; 大島 武; 伊藤 久義

Lee, H. S.*; Yamaguchi, Masafumi*; Ekins-Daukes, N. J.*; Khan, A.*; Takamoto, Tatsuya*; Imaizumi, Mitsuru*; Oshima, Takeshi; Ito, Hisayoshi

次期宇宙用多接合太陽電池のトップセルとして期待されるAlInGaP太陽電池の照射欠陥をDLTSにより調べた。有機金属化学気相成長(MOCVD)法によりGaAs基板上に作製したAlInGaP太陽電池へ1MeV電子線を1$$times$$10$$^{15}$$$$sim$$3$$times$$10$$^{16}$$/cm$$^{2}$$照射した。照射試料をDLTS測定したところ、H1(E$$_{V}$$+0.50eV)とH2(E$$_{V}$$+0.90eV)、の二つの多数キャリア捕獲中心及びE2(E$$_{C}$$-0.70eV)とE3(E$$_{C}$$-0.85eV)の二つの小数キャリア捕獲中心が観測された。さらに、電子線照射した太陽電池へ0.1A/cm$$^{2}$$の電流注入を行ったところH1及びH2中心の濃度が減少することが見いだされた。電流注入温度とH1, H2中心の減少量の関係から欠陥アニール率を求めたところ、欠陥回復の活性化エネルギーとしてH1は0.50eV、H2は0.60eVが決定できた。

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