Analysis of the emission spectrum of Xe and Sn

Xe, SnのEUV放射スペクトルの解析

佐々木 明; 西原 功修*; 砂原 淳*; 西川 亘*; 小池 文博*; 香川 貴司*; 田沼 肇*

Sasaki, Akira; Nishihara, Katsunobu*; Sunahara, Atsushi*; Nishikawa, Takeshi*; Koike, Fumihiro*; Kagawa, Takashi*; Tanuma, Hajime*

EUV光源用Xe, Snプラズマの原子過程の解析を行った。実験と輻射流体シミュレーションによるEUV発光スペクトルの比較を行い、主要な発光線の波長の精度が、実験結果を再現するために重要なことを示した。13.5nm帯における発光に最も重要な各価数のイオンの4d-4f共鳴線については、電荷交換分光法によって波長を正確に測定し、それによって原子データの改良を行った。サテライト線については、CI(配置混合)を考慮して波長と分布を求めるようにした。EUV波長領域でのスペクトルの形状とそのプラズマ温度,密度,光学的厚さによる変化について検討し、その効率に対する効果について考察した。

The atomic processes in the Xe and Sn plasmas are investigated. The wavelength of atomic transitions is shown to have a critical effect in reproducing experiments. The wavelengths of resonance lines in our model are improved through detailed comparison with charge specific spectroscopic measurement. Distribution of satellite lines in the presence of the effect of the configuration interaction (CI) is investigated. The spectral profile of Xe and Sn emission, with determines fraction of usable EUV power, is discussed with respect to its dependence on the plasma temperature, density as well as the optical depth.