ヒト正常線維芽細胞における重イオン誘発バイスタンダー細胞死の解析

Heavy-ion-induced bystander killing of normal human fibroblasts

浜田 信行*; 原 孝光*; 坂下 哲哉; Ni, M.; 和田 成一*; 柿崎 竹彦; 舟山 知夫; 深本 花菜; 鈴木 芳代; 横田 裕一郎; 小林 泰彦

Hamada, Nobuyuki*; Hara, Takamitsu*; Sakashita, Tetsuya; Ni, M.; Wada, Seiichi*; Kakizaki, Takehiko; Funayama, Tomoo; Fukamoto, Kana; Suzuki, Michiyo; Yokota, Yuichiro; Kobayashi, Yasuhiko

高密度に接触阻害させた培養ヒト正常線維芽細胞にLETが異なる重イオンマイクロビームを照射し、誘発されたバイスタンダー細胞死を解析した。約100万個の細胞のうち数個の細胞に重イオンを照射すると、コロニー形成能を基準とした生存率が約10%低下すること、また、TdT-mediated dUTP nick end labeling(TUNEL)陽性率は照射後24時間で最大に達することがわかった。一方、10%生存線量のブロードビームの照射によって、TUNEL陽性率は、照射後72時間までは増加した。そして、その照射後72時間における陽性率は、バイスタンダー細胞における照射後24時間での陽性率と同程度であることがわかった。以上の結果から、照射細胞とバイスタンダー細胞では細胞死の機序と時間動態が異なる可能性が示唆された。

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