ガフフィルムとPCスキャナを用いた簡便な2次元フルエンス分布測定技術

Easy measurement technique for 2D distribution of fluence using GAF-film and PC-scanner

上松 敬; 花屋 博秋

Agematsu, Takashi; Hanaya, Hiroaki

ガフフィルムとPC用イメージスキャナを用いた簡便なイオンビームの2次元フルエンス相対分布測定技術を開発した。感受層の薄いHD-810ガフフィルムは飛程の短い重イオンにも使うことができる。ガフを2MeVの電子線で照射し、各種モデルのスキャナを用い3色の色成分で測定を行うことで、それぞれの線量応答カーブを得た。各カーブはモデル及び色成分ごとに異なるものの、0から数百Gyの領域でリニアであることがわかった。この領域内において数ミクロンの高空間分解能で2次元のフルエンス測定を容易に行えることを、イオンビームスポットのフルエンス分布の測定で確かめた。

We developed an easy measurement technique for 2D-distribution of relative ion beam fluence using GAF-chromic film and an image scanner for a personal computer. The thin active layer type GAF-film, HD-810, is usable for heavy ion beams with short range. We obtained dose response curves of the film irradiated by 2 MeV electron beam measuring with three color components of different model scanners. Each curve has a linear region from zero to some hundreds of Gy, depending on the model and the color, which is available to measurement of 2D fluence with high spatial resolution of the scanners.