CHSにおける高速カメラを用いた損失イオン計測

Escaping ion measurement with high speed camera on CHS

篠原 孝司; 磯部 光孝*; Darrow, D. S.*; 清水 昭博*; 永岡 賢一*; 岡村 昇一*

Shinohara, Koji; Isobe, Mitsutaka*; Darrow, D. S.*; Shimizu, Akihiro*; Nagaoka, Kenichi*; Okamura, Shoichi*

損失イオンプローブにおいて、損失イオンはプローブ内に設置されたシンチレータスクリーンを光らせるが、光った点の2次元座標から、そのイオンのジャイロ半径とピッチ角を決定できる。これらの情報をもとに損失してきたイオンの軌道を逆に追い、そのイオンの起源に関する情報を得ることができる。このプローブはCompact Helical System(CHS)プラズマ境界から数cm離れており、計測対象の損失イオンは数十keVレベルの高速イオンである。CHSにおいて高速イオンの挙動で関心が高いものの一つが、CHSバーストと呼ばれる数msの時間スケールの高速イオン起因不安定性が高速イオンにおよぼす影響である。このような速い時間スケールの現象を観測するには、シンチレータスクリーン上の微弱光の高時間分解での2次元計測を要する。そのために、損失イオンプローブのカメラを、イメージインテンシファイア付きの高速カメラへと更新した。高速化することでCHSバーストが高速イオンに与える影響の詳細を調査できるようになった。本発表では、高速カメラによって新たに観測された高速イオン挙動について報告する。

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