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Temporal evolutions of electron temperature and density with edge localized mode in the JT-60U divertor plasma

JT-60UのダイバータプラズマでのELMによる電子温度と電子密度の時間変化

仲野 友英; 久保 博孝; 朝倉 伸幸

Nakano, Tomohide; Kubo, Hirotaka; Asakura, Nobuyuki

ELMが発生している間の電子温度と電子密度の変化を20kHzで測定した3本の中性ヘリウムの発光線の強度比より定めた。電子温度と電子密度はELMの指標である$$mbox{D}_alpha$$発光線が最大となる450$$mu$$s前から増加を始める。$$mbox{D}_alpha$$発光線が最大となる時刻で電子温度は低下し始め、一方で電子密度はさらにその300$$mu$$s後から低下し始める。電子温度の時間的な変化はELMによってダイバータへ輸送されたプラズマによるダイバータプラズマの加熱(温度上昇)と、再放出された中性粒子を電離するためのエネルギー消費(温度低下)によると解釈される。電子密度の時間的な変化は中性粒子の電離によって供給される電子によって決まる。

The temporal evolutions of the electron temperature and density with ELM, determined from intensity ratios of the three He I lines measured at 20 kHz, start to increase 450 $$mu$$s before the peak of $$mbox{D}_alpha$$ intensity, which is an ELM indicator. At the peak of $$mbox{D}_alpha$$ intensity, the electron temperature starts to decrease while the electron density starts to decrease in 300 $$mu$$s. The temporal evolution of the electron temperature is ascribed to heating by the ELM plasma and to energy loss for ionization of recycled neutrals, and that of the electron density is ascribed to electrons supplied in the ionization of the neutrals.

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分野:Optics

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