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イメージングプレートによる$$^{241}$$Am及び$$^{36}$$Cl校正用面線源の均一性の評価

Measurement of uniformity for $$^{241}$$Am and $$^{36}$$Cl plane sources using imaging plate

吉田 忠義 ; 辻村 憲雄   ; 古河 洋平*

Yoshida, Tadayoshi; Tsujimura, Norio; Furukawa, Yohei*

放射性表面汚染測定器や放射性ダストモニタ等の校正等に用いる校正用面線源の表面放出率の均一性は、変動係数で0.1以下であることがJIS Z4334によって要求されている。そこで、校正業務への使用を予定している$$^{241}$$Am及び$$^{36}$$Cl陽極酸化被膜線源(AEA Technology QSA製)の全数に対し、イメージングプレート(IP)を用いて、それぞれの均一性を調査し、全体としての品質を確認した。

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使用言語

 :

Japanese

掲載資料名

 :

巻

 :

号

 :

ページ数

 :

発行年月

 :

発表会議名

 :

第44回アイソトープ・放射線研究発表会

開催年月

 :

2007/07

開催都市

 :

東京

開催国

 :

日本

キーワード

 :

no keyword

特許データ

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