Difference between local and average structures of LaGaSiO crystal

高エネルギーX線によるランガサイト単結晶の評価

米田 安宏   ; 武田 博明*; 塩嵜 忠*; 水木 純一郎

Yoneda, Yasuhiro; Takeda, Hiroaki*; Shiosaki, Tadashi*; Mizuki, Junichiro

LaGaSiO(通称ランガサイト)は水晶と同じ点群に属しながら、融点まで相転移を示さずその圧電特性を保つため、近年、高温用圧電トランスデューサーや燃焼圧素子用の新素材として注目されている。一方で、ランガサイトは酸化物圧電体結晶のなかではとりわけ結晶性が良いため、X線光学素子としての利用も期待されている。ランガサイト単結晶を高周波数で発振させることによって放射光X線の連続スペクトルを時間的に切り出し時分割実験に利用することや、弾性表面波を利用したアッテネータなどへの利用が検討されている。このような光学素子利用のためのランガサイト単結晶の評価を行った。

The langasite (LaGaSiO, LGS) crystal grown by the Czochralski technique was investigated by X-ray diffraction measurements. The X-ray diffraction profiles of the LGS were consisted with sharp Bragg peaks and large amount of diffuse scatterings. The diffuse scattering inducated the existence of the local structure which is different from the average structure. The local structure was analyzed by the pair-distrivution function method. The local structure fluctuated by the chemical ordering of Ga and Si, and the local disordering feature of La.