X-ray topography of piezoelectric LaTaGaO crystal grown by Czochralski method

LaTaGaO単結晶のX線トポグラフィ

米田 安宏   ; 水木 純一郎; 武田 博明*; 塩嵜 忠*

Yoneda, Yasuhiro; Mizuki, Junichiro; Takeda, Hiroaki*; Shiosaki, Tadashi*

LaTaGaO(通称LTG)のトポグラフィを行った。ランガサイト系の圧電体結晶は非常に良い結晶性を示すことが知られているが、ランガサイト系の単結晶の評価を行った。この研究の目的は、圧電体結晶をX線のチョッパーとして使用するための結晶性の評価である。現在、コマーシャルベースで販売されているランガサイト(LGS)を凌ぐような結晶は見つけることはできなかった。しかし、高エネルギーX線を用いたトポグラフィはランタンのような重い元素の含まれている材料でも、バルクライクな結晶性の評価ができることを示すことができた。

We performed synchrotron X-ray topography on a LaTaGaO (LTG) crystal grown by the Czochralski (Cz) method. Since the synchrotron X-ray source can provide high-energy X-rays, one can detect bulk-sensitive information by the X-ray topography. LTG is one of the most attractive piezoelectric crystals like LaGaSiO (LGS), because of excellent acoustic properties (temperature compensation of acoustic losses). Since LTG single crystals can be grown from stoichiometric melt, single crystals with good crystal quality can be obtained comparing to LGS which can not be grown from stoichiometric system but from congruent melt. The 60-keV X-ray topography revealed that the LTG crystal quality was not the same crystalline quality. The crystal quality of a center parts was worse than that of surroundings.