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BSCCO Bi2223銀シース超伝導材の中性子とX線による残留応力評価

Residual stress estimation of Ag-sheathed Bi2223 tapes using Neutron and X-ray diffraction

町屋 修太郎; 長村 光造*; 鈴木 裕士; 綾井 直樹*; 加藤 武志*; 林 和彦*; 佐藤 謙一*

Machiya, Shutaro; Osamura, Kozo*; Suzuki, Hiroshi; Ayai, Naoki*; Kato, Takeshi*; Hayashi, Kazuhiko*; Sato, Kenichi*

中性子回折を用いて、銀シース超伝導線材において内部のビスマスフィラメントと外部の銀合金のひずみ測定を非破壊的に行った。無ひずみの標準試験片を準備し残留ひずみをX線応力測定法と比較しながら評価するとともに、スタックした試験片を用いて単軸引張り荷重下でのひずみ応答挙動を測定した。

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