中性子反射率計; 界面の情報を探る

The Neutron reflectometer; A Tool for investigation of interfaces

武田 全康  

Takeda, Masayasu

X線や中性子をプローブとする反射率法は、表面は言うまでもなく界面のナノ構造をも非破壊的に知ることのできる唯一の実験手法である。特に中性子は、X線に比較して物質に対する透過力が非常に大きく、物質中に深く埋もれた界面にも容易に達する。また、X線が苦手とする軽元素に対する感度も大きく、さらに、周期律表で隣り合う元素の識別能力を持つため、中性子反射率計は、金属,高分子,生物と測定対象を問わない理想的な表面・界面ナノ構造の研究手段である。

The interfacial structure of the devices and functional materials with the layered structures is closely connected with its function. It is therefore essential to obtain information on the interfacial structure to achieve the high performance. The neutron reflectometry is the most powerful and nondestructive tool for the investigation of the interfacial structures.