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アンジュレータQuickXAFSシステムの導入とクロマトカラム中Pd錯体構造解析への応用

Introduction of the undulator Quick-XAFS system on BL11XU at SPring-8, and an application to Pd complex in the column chromatography

塩飽 秀啓   ; 矢板 毅; 岡本 芳浩  ; 成田 弘一*; 谷田 肇*

Shiwaku, Hideaki; Yaita, Tsuyoshi; Okamoto, Yoshihiro; Narita, Hirokazu*; Tanida, Hajime*

原子力機構では、SPring-8に設置したJAEA専用アンジュレータビームラインBL11XUに、QuickScanXAFSシステムを導入した。この測定法は、物理的及び化学的な反応過程において、経時的な局所構造や化学状態の情報を取得できる大変重要な測定手法である。このシステムを用いて、マイナーアクチノイドの分離及び回収技術高度化研究における、抽出クロマトグラフ法の吸着イオンの状態分析へ応用した。QuickScanXAFS測定及びフィッティングの結果、シリカ担持型BTP(ビス-トリアジニル-ピリジン)に吸着された状態では、Pdは平面4配位構造を取った2価イオンとして存在していることがわかった。その結果Pdと反応性の高い硫黄を、平面4配位構造の上方又は下方からアタックさせることによって、Pdをシリカから溶離可能であると判明した。その結果、今まで困難であったPdを回収することに成功した。発表では、本システムのメリット・デメリット及び測定結果について報告する。さらにわれわれが行っている「設計化学」という考えに基づくイオン認識化合物の構造解析手法についても議論する予定である。

no abstracts in English

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