Sn素線の超電導特性の数値解析・評価Sn strand in CIC conductor村上 陽之*; 植田 浩史*; 石山 敦士*; 小泉 徳潔; 奥野 清
Murakami, Haruyuki*; Ueda, Hiroshi*; Ishiyama, Atsushi*; Koizumi, Norikiyo; Okuno, Kiyoshi
波状曲げ変形、及び一様な曲げ変形を受けるNbSn線の臨界電流性能の劣化を数値解析で模擬するために、分布定数回路モデルを用いた解析コードを開発した。本解析モデルでは、新たに、素線内の銅とブロンズの熱歪、及び弾塑性変形を考慮した。これにより、解析によって、NbSn線の臨界電流性能の劣化の試験結果をよく模擬することができた。また、解析の結果、NbSn線内のフィラメント間で、電流転流が起こりにくいことがわかった。これらの解析モデルの詳細及び解析結果について発表する。
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使用言語 |
: | Japanese |
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: | 2008/01 |
開催都市 |
: | 東京 |
開催国 |
: | 日本 |
キーワード |
: | no keyword |
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