XFELによる生体分子の損傷過程の研究

The Study of damage processes of bio-molecules caused by XFEL

X線自由電子レーザー(XFEL)の利用研究の1つとしてタンパク質などの単生体分子のX線による立体構造解析がある。XFELの場合、従来のX線源よりもX線の数が非常に大きいため、生体の損傷の影響が大きいと考えられている。生体の損傷は、構造解析のノイズとして現れるが、ここでは、損傷とXFELのパラメータ(X線数,パルス幅等)との関係を明らかにして、X線数の上限値を決めることを目指す。XFELが生体分子に照射されると内殻電離及びそれに伴って発生する電子の衝突電離、さらに数fs後、オージェ過程が起こり、電子密度分布の変動が生じる。これらの電子密度分布の変動は立体構造解析のノイズとして現れる。本講演では、XFELのパラメータと元素の電荷数の変化の関係を計算し、立体構造解析に対する最適なパラメータを提案する。

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使用言語	:	Japanese
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発表会議名	:	日本物理学会第63回年次大会
開催年月	:	2008/03
開催都市	:	東大阪
開催国	:	日本
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受委託・共同研究相手機関	:	文部科学省

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