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ZnO as fast scintillators evaluated with Ni-like Ag laser

ニッケル様銀レーザーを用いたZnOの高速シンチレーション特性の評価

古川 裕介*; 田中 桃子; 村上 英利*; 斎藤 繁喜*; 猿倉 信彦*; 錦野 将元; 山谷 寛; 西村 博明*; 三間 圀興*; 鏡谷 勇二*; 福田 承生*

Furukawa, Yusuke*; Tanaka, Momoko; Murakami, Hidetoshi*; Saito, Shigeki*; Sarukura, Nobuhiko*; Nishikino, Masaharu; Yamatani, Hiroshi; Nishimura, Hiroaki*; Mima, Kunioki*; Kagamitani, Yuji*; Fukuda, Tsuguo*

EUV領域の光学技術は、この波長領域の光が次世代リソグラフィーの光源として有望であることから盛んに研究されている。短パルス、高輝度のEUVレーザーはこの波長領域の物性研究を推進するのに適した光源である。ここでは、13.9nmのニッケル様銀EUV線レーザーを励起光源として用い、酸化亜鉛のシンチレーション特性について計測した結果を報告する。計測は、試料にEUVレーザーパルスを照射し、分光ストリークカメラを用いて発光の時間分解分光計測を行った。その結果、発光寿命3ns、中心波長380nm発光が観測され、酸化亜鉛がEUV用シンチレーターとして好適であることが見いだされた。

Optical technologies in extreme ultraviolet (EUV) region have been receiving strong interests for the next generation lithography. Here we report properties of ZnO as scintillators in the EUV region, and to demonstrate the feasibility of using a Ni-like Ag EUV laser operated at 13.9-nm to evaluate these properties. The ZnO sample was irradiated with EUV laser pulses and the fluorescence was measured using a streak camera fitted with a spectrograph. A clear, excitonic, fluorescence peak was observed at around 380 nm with a decay lifetime of 3 ns. The prominent peak fluorescence is ideal for EUV detection and further applications including imaging.

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