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マイクロチャンネルのボイド率計測技術開発

Development of capacitance void fraction meters for micro-channel

渡辺 博典; 光武 徹*; 柿崎 禎之*; 関根 勝則*; 高瀬 和之

Watanabe, Hironori; Mitsutake, Toru*; Kakizaki, Sadayuki*; Sekine, Katsunori*; Takase, Kazuyuki

近年、超小型熱交換器,燃料電池,マイクロマシーン等の先端機器の実用化研究では細管(マイクロチャンネル)のボイド率計測技術を必要としている。このための実用的な計測技術を開発した。開発した計測技術は、細管内流体の静電容量(C)を計測することでボイド率に換算する方式である。水質によらず、全領域のボイド率を計測するもので、本研究で電極体系ごとに計測特性式を取得した。計測方法は、高周波電源を電極に印加し電極間の二相流の静電容量を計測し、計測特性式を用いてボイド率に換算する方法である。電極はリング電極体系及びワイヤ電極体系の2種を用いた。

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