代表点法に基づく線スペクトロメータ効率校正用コードシステム; CREPT-MCNP

CREPT-MCNP; Code system for efficiency calibration of -ray spectrometer based on the representative point method

三枝 純; 小古瀬 均; 高村 篤*; 杉田 武志*

Saegusa, Jun; Ogose, Hitoshi; Takamura, Atsushi*; Sugita, Takeshi*

これまでに、線スペクトロメータの効率校正を行う方法として「代表点法」を開発した。代表点法を円滑に実施するため、CREPT-MCNPコードシステムを整備・公開した。CREPT-MCNPは、Windows PC環境でGUI形式で動作する。本コードシステムには、体積試料の計数効率曲線に等価な計数効率曲線を与える点(代表点)を探索するための機能や、代表点で測定した計数効率に対し自己吸収効果の補正を行う機能などが含まれている。適用対象は、p型及びn型Ge半導体検出器により測定可能な、エネルギー範囲が20keVから2MeVの光子である。

The representative point method is an efficiency calibration method for a -ray spectrometer. A calculation code system, CREPT-MCNP, for implementing the method has been newly developed. CREPT-MCNP can be operated under the Windows PC environment as a GUI based application. The code system estimates the position of the representative point which is intrinsic to each shape of volume sample, and also gives the self-absorption factors to make correction on the efficiencies measured at the representative point with a standard point source. It can deal with photons between 20 keV and 2 MeV with p- or n-type germanium semiconductor detectors.