X線磁気円二色性測定によるC60-Coナノ・グラニュラー薄膜の磁気特性解析

Analysis of magnetic properties in C60-Co nanogranular thin film by XMCD spectroscopy

松本 吉弘; 境 誠司; 楢本 洋*; 高木 康多*; 中川 剛志*; 島田 敏宏*; 横山 利彦*; 前田 佳均

Matsumoto, Yoshihiro; Sakai, Seiji; Naramoto, Hiroshi*; Takagi, Yasumasa*; Nakagawa, Takeshi*; Shimada, Toshihiro*; Yokoyama, Toshihiko*; Maeda, Yoshihito

近年、われわれはフラーレン(C60)-コバルト(Co)化合物中にCoのナノ粒子が分散した構造を持つC60-Coナノ・グラニュラー薄膜において、低温で巨大なトンネル磁気抵抗効果が発現されることを確認した。その大きさは膜中に存在する粒子間のトンネル伝導のみでは十分に説明することができず、基層となる化合物の存在がトンネル伝導に深く関与しているものと推測される。本研究ではCo粒子及びC60-Co化合物の磁気特性に関する情報を得ることを目的とし、放射光を用いたX線磁気円二色性(XMCD)測定を行った。結果として、C60-Co化合物相に常磁性的な振舞いを示す混成軌道が存在を確認した。この軌道がトンネル伝導の際にスピンフィルターの役目を果たしているのではないかと推察される。

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