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軟X線偏光解析装置の開発と性能試験

Development and preliminary performance test of a soft X-ray ellipsometer

今園 孝志; 鈴木 庸氏; 佐野 一雄*; 小池 雅人

Imazono, Takashi; Suzuki, Yoji; Sano, Kazuo*; Koike, Masato

磁気円二色性測定等では内殻電子を偏光軟X線源で励起しているが、偏光を扱うような実験では励起光の偏光状態に関する情報をあらかじめ取得しておくことは極めて有用である。そのためには偏光素子による偏光測定を行う必要があるが、軟X線領域、特に、磁性元素$$L$$吸収端近傍(0.7$$sim$$0.9keV)ではSc/Cr等の多層膜型素子やダイヤモンド等の結晶型素子等の既存の偏光素子は適用領域から外れているために偏光評価を行うことはできない。そこで、当該領域で機能する偏光素子の開発や偏光測定を行うために、回転検光子型の偏光解析装置を開発し、立命館大学SRセンターの軟X線ビームライン(BL-11)に設置した。講演では、装置の仕様の詳細,反射率測定等の性能試験の結果について報告する。

In magnetic science such as magnetic circular dichroism measurement, core electrons are excited by polarized soft X-ray. Experimenters using polarized soft X-rays as the incident light need the information on its polarization state, so that it is useful for them to evaluate it in advance. In the energy range from 0.7 to 0.9 keV, which is in the vicinity of the absorption edges of 3$$it d$$ transition metals, it makes impossible to perform the polarization measurement. It is because existing polarizing elements are unusable in this energy region. In order to develop new polarizing elements and evaluate the polarization state, an apparatus for soft X-ray ellipsometry based on the rotating-analyzer method has been designed and installed to the SR Center of Ritsumeikan University. We discuss the specification and the result of the preliminary performance test of this apparatus.

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