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陽電子寿命試験所間比較測定における不確かさの考察

Estimation of measurement uncertainty for positron annihilation lifetimes at an interlaboratory comparison

伊藤 賢志*; 岡 壽崇*; 小林 慶規*; 白井 泰治*; 和田 健一郎*; 松本 昌高*; 藤浪 真紀*; 平出 哲也; 誉田 義英*; 細見 博之*; 永井 康介*; 井上 耕治*; 斎藤 晴雄*; 榊 浩司*; 佐藤 公法*; 島津 彰*; 上殿 明良*

Ito, Kenji*; Oka, Toshitaka*; Kobayashi, Yoshinori*; Shirai, Yasuharu*; Wada, Kenichiro*; Matsumoto, Masataka*; Fujinami, Masanori*; Hirade, Tetsuya; Honda, Yoshihide*; Hosomi, Hiroyuki*; Nagai, Yasuyoshi*; Inoue, Koji*; Saito, Haruo*; Sakaki, Koji*; Sato, Kiminori*; Shimazu, Akira*; Uedono, Akira*

金属中の空孔型欠陥や高分子中の自由体積空孔の検出・測定に有効な陽電子寿命測定法において、これまで異なる研究室で得られた結果の同等性や信頼性はほとんど検討されてこなかった。ここでは、バルク陽電子寿命測定のための測定プロトコルや標準物質の検討結果に基づいて実施した試験所間比較試験結果における不確かさの要因について考察した。金属試料ではさらなる検討が必要であることがわかったが、ポリカーボネート及び石英ガラスでのオルソーポジトロニウムの寿命値の結果では過去の国際比較試験に比して半分以下の不確かさが実現できた。

An interlaboratory comparison for positron annihilation lifetime measurements for pure nickel, polycarbonate (PC) and fused silica was performed. Based on the reported data of positron (for nickel) and positronium (for PC and fused silica) components, the uncertainties in the PAL measurements were estimated and their possible source was discussed.

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