JT-60Uにおける炭素堆積層中のタングステンの分析

Analysis of tungsten in the carbon deposition layer in JT-60U

渡邊 淳*; 福本 正勝*; 大塚 裕介*; 上田 良夫*; 新井 貴; 朝倉 伸幸; 仲野 友英; 佐藤 正泰; 柳生 純一; 落合 謙太郎; 高倉 耕祐; 田辺 哲朗*; 大宅 薫*

Watanabe, Jun*; Fukumoto, Masakatsu*; Otsuka, Yusuke*; Ueda, Yoshio*; Arai, Takashi; Asakura, Nobuyuki; Nakano, Tomohide; Sato, Masayasu; Yagyu, Junichi; Ochiai, Kentaro; Takakura, Kosuke; Tanabe, Tetsuo*; Oya, Kaoru*

JT-60Uのダイバータ板上の炭素堆積層中に含まれるタングステン量を測定するために、今まではエネルギー分散型X線分光法(EDX)をおもに用いてきた。この方法では入射する電子ビームのエネルギーによって分析可能な深さが決まる。電子ビームエネルギーが20keVの場合、この深さは約10mであることを実験及びモンテカルロ計算によって明らかにした。よって、内側ダイバータ板上など堆積層の厚さが数十m以上である場合には堆積層中のすべてのタングステンを検出することができず、タングステン量を過小評価する可能性がある。この場合には堆積層の破断面を分析するか、放射化分析法など他の分析法を用いる必要がある。

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