Powder neutron diffraction of La-apatite under low temperature

低温におけるLaアパタイトの粉末中性子回折

松下 能孝*; 泉 富士夫*; 小林 清*; 井川 直樹   ; 北澤 英明*; 尾山 由紀子*; 三好 正悟*; 山口 周*

Matsushita, Yoshitaka*; Izumi, Fujio*; Kobayashi, Kiyoshi*; Igawa, Naoki; Kitazawa, Hideaki*; Oyama, Yukiko*; Miyoshi, Shogo*; Yamaguchi, Shu*

アパタイト型Laシリケート・LaSiOについて10Kにて粉末中性子回折データを測定し、Rietveld解析を行った。解析の結果、本物質の空間群はP6/mであり、格子定数は=0.971297(7)nm, =0.717950(6)nmであることがわかった。最大エントロピー法解析によって、La2サイトの周りにランダムに格子間酸素位置が存在すること、これがO4サイトによるイオン伝導に対して高い伝導度をもたらすことが明らかになった。

The neutron powder diffraction data of the apatite-type La-silicate LaSiO was measured at 10 K and the Rietveld refinement on the basis of hexagonal P6/m was successfully carried out. The obtained cell parameters were =0.971297(7) nm, and = 0.717950(6) nm. On the Rietveld refinement supported by maximum entropy method, the interstitial oxygen positions show randomly distribution around La2 site, and they may give the driving-force of high ionic conductivity to the main ionic conduction site O4.