埋もれた微小領域の水素界面層を実測する目的で、水素界面層を重水素に置換し中性子に対するコントラストを変化させ、解析精度を上げた中性子反射率測定を行うとともに、多重内部反射赤外分光(MIR-FTIR)法を用いて、基板直上の埋もれた水素界面での原子振動・結合状態の精密評価を行った。これら複合的な手法による埋もれた界面解析の試みを紹介する。
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使用言語 |
: | Japanese |
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発表会議名 |
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開催年月 |
: | 2009/03 |
開催都市 |
: | つくば |
開催国 |
: | 日本 |
キーワード |
: | no keyword |
論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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