検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

SPring-8 BL23SUの表面化学反応分析実験ステーションにおける走査型プローブ顕微

Scanning probe microscopy installed at surface reaction analysis apparatus (SUREAC2000) at BL23SU of SPring-8

吉越 章隆 ; 寺岡 有殿

Yoshigoe, Akitaka; Teraoka, Yuden

高輝度・高分解能軟X線放射光を用いた「その場」光電子分光と超音速分子線を組合せて、おもに吸着反応ダイナミクスに注目して固体表面と気体分子の表面化学反応を明らかにしてきた。光電子分光は、表面の平均情報を調べるため、反応前後の実空間での局所的な吸着位置や表面形状に関する知見を得ることは難しい。例えば、Si(111)-7$$times$$7への酸素分子の暴露では、faulted halfのcorner adatomが初期の優先吸着サイトと考えられているが、われわれは、酸素分子の並進運動エネルギーによって吸着量の増加など反応選択性を示唆する結果を光電子分光実験から既に得ている。したがって、走査型プローブ顕微鏡を組合せれば、このような反応選択性を多角的に検討できる。そこで、SPring-8軟X線ビームライン(BL23SU)の表面化学反応分析装置(SUREAC2000)に超高真空走査型プローブ顕微鏡(OMICRON Nanotechnology, UHV-STM/AFM)を導入した。分析室は、5$$times$$10$$^{9}$$Paを達成している。Si(111)基板を通電加熱後、STM観察した結果、正負バイアス条件で広範囲の7$$times$$7構造、そして高分解能条件ではSi adatomの欠陥等が確認でき、放射光ビームラインで原子レベルの実空間観察が実現された。

no abstracts in English

Access

:

- Accesses

InCites™

:

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.