西村 昭彦 
; 岡 潔; 山口 智彦 ; Mihalache, O. ; 田川 明広 ; 山下 卓哉
Nishimura, Akihiko; Oka, Kiyoshi; Yamaguchi, Toshihiko; Mihalache, O.; Tagawa, Akihiro; Yamashita, Takuya
現在、Na冷却型FBRの検査補修技術として、SGの伝熱管内壁の微小欠陥を発見後に直ちに補修することで施栓を回避しSGの寿命を伸ばすことが必要となった。このためECTによる微小欠陥の発見に続いてレーザー加工による溶接補修を実施する新プローブ開発を進めている。本開発では、日本原子力学会秋の大会での発表に続いて、最新のECT検査技術とレーザー加工技術のソフトウエア開発とシステム統合化について報告する。
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使用言語 |
: | Japanese |
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: | 2009/03 |
開催都市 |
: | 東京 |
開催国 |
: | 日本 |
キーワード |
: | no keyword |
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