異なるイオン照射線量における麹菌()ゲノムの変異スペクトル解析

Sequence analysis of mutation induced by carbon ion with various radiation dosages in

田中 寿基*; 豊島 快幸*; 渡部 潤*; 山崎 達雄*; 岩下 和裕*; 三上 重明*; 野澤 樹; 佐藤 勝也; 鳴海 一成

Tanaka, Hisaki*; Toyoshima, Yoshiyuki*; Watanabe, Jun*; Yamazaki, Tatsuo*; Iwashita, Kazuhiro*; Mikami, Shigeaki*; Nozawa, Shigeki; Sato, Katsuya; Narumi, Issei

イオンビームはUV照射等に比べて高い変異率を示し、さらに染色体の大規模欠損を生じうることから、麹菌育種のツールとして有用と考えられる。本研究では、異なる線量での照射によって得られた麹菌変異株について、その変異スペクトル解析を行った。さまざまな線量のイオンビームを照射した麹菌分生子より、セレン酸耐性を指標に又は遺伝子変異株を取得し、そのゲノムDNAを調整した。PCRにより又はを含む領域の増幅を試みた結果、高い変異率を示すことが以前に確認された300から500Gyにおいて、PCR産物の増幅が認められない株が多く見られ、染色体の大規模欠損や再構成が起きていると示唆された。増幅が認められた株について、PCR産物のシークエンス解析を行った結果、変異株の取得できたいずれの線量においても欠失,挿入,塩基置換等の変異が、及び領域のランダムな位置に生じており、さまざまな線量のイオンビームを照射することで、異なるタイプの変異株が創出できると考えられた。

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