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Complementary spectroscopy of tin ions using ion and electron beams

イオンビーム,電子ビームを用いたスズイオンの相補的な分光研究

大橋 隼人*; 須田 慎太郎*; 田沼 肇*; 藤岡 慎介*; 西村 博明*; 西原 功修*; 甲斐 健師; 佐々木 明; 坂上 裕之*; 中村 信行*; 大谷 俊介*

Ohashi, Hayato*; Suda, Shintaro*; Tanuma, Hajime*; Fujioka, Shinsuke*; Nishimura, Hiroaki*; Nishihara, Katsunobu*; Kai, Takeshi; Sasaki, Akira; Sakaue, Hiroyuki*; Nakamura, Nobuyuki*; Otani, Shunsuke*

多価電離スズイオンのEUV領域(波長10$$sim$$22nm)の発光スペクトルを、イオンの電荷交換分光実験及び電子ビームイオントラップ(EBIT)における電子衝突励起の実験で測定した。電荷交換分光実験では、共鳴線と励起状態間の遷移が観測されたのに対し、電子衝突励起実験では共鳴線のみが観測された。両者を比較して、どのような遷移が発光に寄与しているか考察した。

Extreme ultra-violet (EUV) emission spectra of multiply charged tin ions were measured in the wavelength range of 10-22 nm following charge exchange collisions or the electron impact excitation of tin ions. In charge exchange collisions, we observed both the resonance lines and the emission lines corresponding to the transitions between the excited states. On the other hand, we observed mainly the resonance lines in the electron impact experiments. We can distinguish the resonance lines from other emission lines in the charge exchange spectrum by comparison with the emission lines in the electron impact spectrum.

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