高エネルギーイオン照射したCeO $_{2}$ の高密度電子励起による照射損傷

Radiation damage by high-density electronic excitation in CeO $_{2}$ irradiated with high-energy ions

本研究では、弾性衝突効果のみを想定した既存の損傷予測法の不備を実験的に明らかにし、損傷予測の高精度化に必要な損傷形成モデルを提案することを目的とする。弾性衝突効果を支配するエネルギー伝達密度(核的阻止能)以外に、電子系に伝達されるエネルギー密度(電子的阻止能)が損傷形成を支配することを証明した。

In this study, irradiation damage is investigated in terms of nuclear energy loss and electronic energy loss.

発表言語	:	Japanese
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発行年月	:
発表会議名	:	日本物理学会2009年秋季大会(物性)
開催年月	:	2009/09
開催都市	:	熊本
開催国	:	日本
キーワード	:	no keyword

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使用施設	:	タンデム加速器
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登録番号 : BB20092025
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高エネルギーイオン照射したCeOの高密度電子励起による照射損傷

Radiation damage by high-density electronic excitation in CeO irradiated with high-energy ions

高エネルギーイオン照射したCeO $_{2}$ の高密度電子励起による照射損傷

Radiation damage by high-density electronic excitation in CeO $_{2}$ irradiated with high-energy ions