Terauchi, Masami*; Koike, Masato
透過型電子顕微鏡を用いると大きな単結晶がなくとも電子回折図形から結晶方位を同定できるだけでなく、価電子が内殻ホールに遷移するときの軟X線発光を組合せることで、微小な単結晶領域から価電子帯の状態密度分布に関する情報が得られる。したがって、軟X線の発光異方性の計測が精度よく行える可能性があり、発光強度の異方性は価電子の空間分布の異方性を示すことになる。グラファイト試料の炭素K発光強度分布の角度依存性の測定を行い、
結合軌道と
結合軌道からの発光強度が異方的であると同時に、それぞれの軌道からの発光エネルギーも異なるという結果を得た。この結果からと結合軌道の状態密度分布を求めた。軌道が価電子帯上部に位置すること、バンド,バンドがエネルギー的に重なっていることが示された。
no abstracts in English
使用言語 |
: | Japanese |
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掲載資料名 |
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巻 |
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号 |
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ページ数 |
: | p.71 - 74 |
発行年月 |
: | 2010/06 |
発表会議名 |
: | |
開催年月 |
: | 2009/10 |
開催都市 |
: | 木津川 |
開催国 |
: | 日本 |
キーワード |
: | no keyword |
論文URL |
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論文解説記事 |
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受委託・共同研究相手機関 |
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Access |
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