高エネルギー重イオンによるラザフォード後方散乱分光

Heavy ion Rutherford backscattering spectrometry (HIRBS) at JAEA Tokai tandem accelerator

Nakamura, Masahiko; Matsuda, Makoto; Sataka, Masao; Takahiro, Katsumi*; Matsunami, Noriaki*

ラザフォード後方散乱(RBS)法によるイオンビーム解析の高分解能化を目的とし、従来、入射ビームとしてエネルギー1MeV領域の $^{4}$ Heイオンなどを用いる手法に対し、高エネルギー重イオンを用いた分光を行った。原子力機構東海タンデム加速器からの核子あたりのエネルギー1MeV程度の $^{12}$ C, $^{22}$ Ne及び $^{40}$ ArイオンをAu薄膜,Cu薄膜及びGaAs結晶などの標的に入射し、通常のシリコン検出器を用いて後方散乱スペクトルを測定した。得られたスペクトルから、通常の $^{4}$ Heイオンビームでは分離できないCu同位体及びGaAs元素の分離が可能であることがわかった。

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使用言語	:	Japanese
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発表会議名	:	日本物理学会第65回年次大会
開催年月	:	2010/03
開催都市	:	岡山
開催国	:	日本
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使用施設	:	タンデム加速器
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