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Diagnostics of tokamak divertor plasmas by Stark broadening of impurity emission lines

不純物発光線のシュタルク拡がりによるトカマク・ダイバータプラズマの診断

Koubiti, M.*; 仲野 友英; Capes, H.*; Marandet, Y.*; Mouret, L.*; Rosato, J.*; Stamm, R.*

Koubiti, M.*; Nakano, Tomohide; Capes, H.*; Marandet, Y.*; Mouret, L.*; Rosato, J.*; Stamm, R.*

JT-60Uの非接触ダイバータプラズマから放射されるC IV(n=6-7)スペクトル線を高波長分解可視分光器で測定し、そのスペクトル形状をPPPコードにより解析した。解析の結果、スペクトル線形状はドップラー効果とシュタルク効果の影響を受けることがわかった。それぞれの効果の大きさを評価することによりイオン温度(=電子温度)と電子密度を決定することに成功した。X点を貫く視線に対して決定された電子温度と電子密度はそれぞれ3eVと7$$times$$10$$^{20}$$m$$^{-3}$$であり、これらはC IVスペクトル線の強度比より定められた電子温度(6.3eV)と電子密度(7.8$$times$$10$$^{20}$$m$$^{-3}$$)に近い。これらの結果から独立した方法によりX点付近に高密度プラズマが形成されることが明らかにされた。

The C IV ($$n$$ = 6-7) spectral lines emitted from the JT-60U detachedplasmas were observed with a high-wavelength resolution spectrometer and theprofiles were analyzed with a PPP code. The analysis indicates that thespectral profiles were broadened with both the Doppler and the Starkeffects. From these effects, the electron temperature and density wereevaluated. Along the viewing chord for the X-point, the electron temperatureand density was determined to be 3 eV and 7$$times$$10$$^{20}$$m$$^{-3}$$, respectively. These are similar to those determined from the intensity ratioof C IV lines (6.3 eV and 7.8 $$times$$ 10$$^{20}$$ m$$^{-3}$$, respectively). The high density plasma around the X-point was confirmed withthese independent methods.

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