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民生電子部品の宇宙環境における耐放射線性の研究

Study of radiation torelance of COTS electronics in space environment

佐々木 直樹*; 垣見 征孝*; 平尾 敏雄; 大島 武; 小野田 忍

Sasaki, Naoki*; Kakimi, Yukitaka*; Hirao, Toshio; Oshima, Takeshi; Onoda, Shinobu

数年後の打上げを目標にしている小型衛星の開発には、民生用電子部品の放射線照射試験評価が必要不可欠である。本研究では、FeRAM(強誘電体メモリ)及びMPU(マイクロプロセッサ)にサイクロトロンからの高エネルギー重イオンを照射し、そのシングルイベント耐性を調べた。その結果、FeRAMにおいては、シングルイベントラッチアップに対する耐性が高いこと、シングルイベントアップセットが起こらないこと等が明らかになった。FeRAMのシングルイベント発生頻度は3,000year/event以上であり、放射線への耐性は高いという結果を得ることができた。一方、MPUについては、シングルイベント発生頻度の評価まで行えなかったものの、シングルイベントラッチアップ及びシングルイベントアップセットの双方が検出され、今後も引き続き照射試験を行う必要があることが確認された。

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