高エネルギーイオン照射したCeOの高密度電子励起による照射効果

Irradiation effects due to high-density electronic excitation in CeO irradiated with high-energy ions

竹ヶ原 圭介; 石川 法人   

Takegahara, Keisuke; Ishikawa, Norito

本研究では、高エネルギーイオンから電子系に伝達されるエネルギー(電子的阻止能)が損傷(イオントラック)を形成するときに、イオントラックの内部構造を調べるために透過型電子顕微鏡により観測されるイオントラック寸法とX線回折法により見積もられるイオントラック寸法とを比較した。その結果、透過型電子顕微鏡により観測されるイオントラック寸法よりもX線回折法により見積もられるイオントラック寸法が大きく、X線回折法の方がイオントラックの周りの格子歪みも検知できている可能性を示唆している。

The correlation between electronic stopping power and ion-track size is studied. The results indicate that the X-ray diffraction method sensitively detect lattice distortion around ion-tracks which is not detected by transmission electron microscope.