Soft X-ray angle-resolved photoemission study of YbCuGe

YbCuGeの軟X線角度分解光電子分光実験

保井 晃; 藤森 伸一   ; 川崎 郁斗  ; 岡根 哲夫  ; 竹田 幸治   ; 斎藤 祐児  ; 山上 浩志; 関山 明*; 摂待 力生*; 松田 達磨; 芳賀 芳範   ; 大貫 惇睦*

Yasui, Akira; Fujimori, Shinichi; Kawasaki, Ikuto; Okane, Tetsuo; Takeda, Yukiharu; Saito, Yuji; Yamagami, Hiroshi; Sekiyama, Akira*; Settai, Rikio*; Matsuda, Tatsuma; Haga, Yoshinori; Onuki, Yoshichika*

これまでYb2価物質であると考えられてきたYbCuGeについて、Yb4電子を含む固体内部の電子構造を調べるために軟X線光電子分光実験を行った。その結果、角度積分スペクトルの結合エネルギーの612eVにわずかにYb多重項ピークが観測された。これはYbCuGeは価数揺動物質であることを示している。また、角度分解スペクトルにおいてYb4バンドと伝導バンドが"anti-crossing"している様子が確認できた。これは、Ge4とCu3でできた伝導バンドとYb4バンドが混成していることを示す。

Soft X-ray photoemission spectroscopies have been performed on YbCuGe, which is thought to be a Yb divalent system, to investigate its bulk electronic structure including Yb 4 electrons. Small but finite Yb multiplet peaks were found at 612 eV in the angle-integrated spectrum, suggesting that it is a valence fluctuation compound. An "anti-crossing" Yb 4 bands with conduction bands were observed in the angle-resolved spectrum. This is the evidence that the Yb 4 electrons form a band state through the hybridization with Ge 4 and Cu 3 electrons.