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Synchrotron radiation based X-ray imaging study of simulated high-level waste glass

模擬高レベル廃棄物ガラスの放射光イメージング研究

岡本 芳浩  ; 中田 正美  ; 赤堀 光雄; 湊 和生 ; 塩飽 秀啓   ; 矢板 毅; 駒嶺 哲*; 福井 寿樹*; 越智 英治*; 仁谷 浩明*; 野村 昌治*

Okamoto, Yoshihiro; Nakada, Masami; Akabori, Mitsuo; Minato, Kazuo; Shiwaku, Hideaki; Yaita, Tsuyoshi; Komamine, Satoshi*; Fukui, Toshiki*; Ochi, Eiji*; Nitani, Hiroaki*; Nomura, Masaharu*

従来のイオンチェンバーの替わりにX線ダイレクトCCDカメラを使用した放射光イメージング技術を利用し、高レベル模擬廃棄物ガラス試料中のRu元素の分布とその化学状態を調べた。取得した画像のグレースケール解析から、位置分解能を備えたX線吸収スペクトルを取得した。得られたスペクトルを標準試料のものと比較して、試料中の各部分が酸化物なのか金属なのかを判別した。解析の結果、ガラス利用中ではRuは、酸化物RuO$$_2$$の状態で分布していることを確認した。

Distribution and the chemical state of Ru element in the simulated high-level waste glass were examined by using the synchrotron radiation based X-ray imaging technique. In this technique, a direct X-ray CCD camera is used in place of an ion chamber. Position sensitive X-ray absorption spectra were obtained by analyzing gray scale in images of the X-ray CCD camera. It can be seen that Ru element scattered in the glass sample exists as oxide RuO$$_2$$.

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