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放射光軟X線光電子顕微鏡による有機分子薄膜のナノ構造観察

Nanostructure analyses of organic thin films by photoelectron emission microscopy combined with synchrotron soft X-rays

馬場 祐治  

Baba, Yuji

「触媒」誌からの依頼により、光電子顕微鏡(PEEM)と軟X線放射光を組合せた有機分子の高速ナノ構造観察に関する最近の研究成果について解説した。主な内容は、(1)マイクロ-X線吸収端微細構造(NEXAFS)法の原理、(2)放射光軟X線ビームラインに設置した光電子顕微鏡(PEEM)の概要、(3)軟X線ビーム集光による軟X線PEEM観察の高速化、(4)軟X線PEEMによる有機分子薄膜のナノ配向観察、である。また、同手法の触媒反応観察への応用の可能性についてもふれた。

Photoelectron emission microscopy (PEEM) is a powerful tool to observe microscopic images of a solid surface at nanometer scale. When we use soft X-rays from synchrotron light source in PEEM, electronic structures and molecular orientations can be observed owing to the energy tunability and polarized nature of synchrotron beam. The examples of the application of soft X-ray PEEM to the real-time observation of organic thin films are presented.

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