Sorption / diffusion data aquisition method development for high sorbing americium in compacted bentonite

高収着性Amの収着・拡散データの取得手法の開発

石井 康雄; 高橋 宏明; 舘 幸男  ; 戸村 努*; 根本 一昭*; 岡崎 充宏*

Ishii, Yasuo; Takahashi, Hiroaki; Tachi, Yukio; Tomura, Tsutomu*; Nemoto, Kazuaki*; Okazaki, Mitsuhiro*

高収着性核種に対応した精密な内部プロファイル取得手法を開発し、圧縮ベントナイトの拡張RD法により0.1M, 0.5M NaCl / 0.05M NaHCO溶液中におけるベントナイト(クニピアF:クニミネ工業社製)に対するDe及びKdを求めた。Kdについてはバッチ収着試験法による測定も行い、比較を行った。

Am(III) diffusion experiment were performed by reservoir depletion (RD) test method coupled with thin layer ID profile fitting in 0.1 or 0.5M NaCl / 0.05M NaHCO - bentonite (kunipia-F) system. The Kd values were also measured using batch technique in the same experimental conditions. In an ordinary ID profile acquisition cutting the bentonite by scraper, the compacted bentonite sample can be cut into 100 m thick slices. Using this technique, it was possible to divide the ID profile into 10 m and therefore, to analyze diffusion distance layer larger than 50 m.