時間分解テラヘルツ分光によるシリコン内部のキャリアダイナミクス測定

Ultrafast optical pump - THz probe time-resolved spectroscopy on Si

Tsubouchi, Masaaki; Yokoyama, Atsushi; Nagai, Masaya*; Oshima, Yasuhiro*

シリコン表面への近赤外光励起により生成されるキャリアは、THz領域の光に強く影響を与えるためTHz光透過の阻害要因となる一方、THz光の光スイッチ等の疑似光学素子としての利用が提案されている。キャリアによる精密なTHz光の光学制御を行うためには、キャリアのシリコン内空間分布とダイナミクスを精査する必要がある。そこで本研究では、光学励起・THz検出時間分解測定法を用いて、シリコン内部のキャリアダイナミクスを直接測定する手法を開発した。

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使用言語	:	Japanese
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発行年月	:
発表会議名	:	2011年秋季第72回応用物理学会学術講演会
開催年月	:	2011/08
開催都市	:	山形
開催国	:	日本
キーワード	:	no keyword

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受委託・共同研究相手機関	:	分子科学研究所; 大阪大学

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登録番号 : BB20110398
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