軟X線角度分解光電子分光によるYbCuSiの電子構造研究

Electronic structure study of YbCuSi using soft X-ray angle-resolved photoemission spectroscopy

保井 晃; 藤森 伸一   ; 川崎 郁斗  ; 岡根 哲夫  ; 竹田 幸治   ; 斎藤 祐児  ; 山上 浩志; 関山 明*; 摂待 力生*; 松田 達磨; 芳賀 芳範   ; 大貫 惇睦*

Yasui, Akira; Fujimori, Shinichi; Kawasaki, Ikuto; Okane, Tetsuo; Takeda, Yukiharu; Saito, Yuji; Yamagami, Hiroshi; Sekiyama, Akira*; Settai, Rikio*; Matsuda, Tatsuma; Haga, Yoshinori; Onuki, Yoshichika*

YbCuSiは典型的な価数揺動物質として古くから知られている。この物質については、これまでにドハース・ファンアルフェン(dHvA)効果の測定が行われており、その結果とLDA+をもとにしたバンド計算を比較することにより、フェルミ面形状が予測されている。しかし、その計算では過去の価電子帯角度積分光電子スペクトルを説明できないことから、バンド構造とフェルミ面を統一的に理解できていない。われわれはYbCuSiのバルクの価電子帯構造を実験的に調べるために、軟X線角度分解光電子分光(ARPES)実験を行った。発表では、本研究で得られたYbCuSiの価電子帯バンド分散及びフェルミ面と、Yb3価状態の参照物質であるYCuSi、また、以前報告したYb2価に近い価数揺動物質であるYbCuGeのものとの比較を示す。

no abstracts in English