検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

中性子反射率法による薄膜の界面構造解析

Structural analysis of interfaces in thin films using neutron reflectometry

武田 全康  

Takeda, Masayasu

本解説では、中性子の「波」としての性質が顕著に現れる「中性子光学」現象を使って、nmから数$$mu$$mの厚さの層が積み重なった多層膜構造を非破壊的に調べることのできる中性子反射率法について紹介する。

no abstracts in English

Access

:

- Accesses

InCites™

:

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.