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Cu-K吸収端共鳴X線非弾性散乱によるLa$$_{2-x}$$(Sr,Ba)$$_{x}$$CuO$$_{4}$$の電荷励起の研究

Cu-K edge RIXS study of charge excitations in La$$_{2-x}$$(Sr,Ba)$$_{x}$$CuO$$_{4}$$

脇本 秀一  ; 石井 賢司; 木村 宏之*; 池内 和彦*; 吉田 雅洋*; 足立 匡*; 小池 洋二*; 藤田 全基*; 山田 和芳*; 水木 純一郎

Wakimoto, Shuichi; Ishii, Kenji; Kimura, Hiroyuki*; Ikeuchi, Kazuhiko*; Yoshida, Masahiro*; Adachi, Tadashi*; Koike, Yoji*; Fujita, Masaki*; Yamada, Kazuyoshi*; Mizuki, Junichiro

Cu-K吸収端での共鳴X線非弾性散乱により、ホールドープ型銅酸化物高温超伝導体であるLa$$_{2-x}$$(Sr,Ba)$$_{x}$$CuO$$_{4}$$の電荷励起を調べた。過剰ドープ領域の試料で弾性散乱成分を分子軌道励起の成分を差し引くことで、4eV以下に分散を持つ電荷励起を観測した。これは電子ドープ系で見られたのと同様の電荷動的相関関数を反映したバンド内励起であり、ホールドープ系において初めて観測に成功した。

We performed resonant inelastic X-ray scattering at Cu-K absorption edge to study charge excitations in hole-doped high-Tc cuprate La$$_{2-x}$$(Sr,Ba)$$_{x}$$CuO$$_{4}$$. By subtracting elastic and molecular orbital excitation components from RIXS spectra, we have found dispersing charge excitation below 4 eV. This is the first success of observation of intra-band excitation which reflects dynamical charge-charge correlation function in the hole-doped system.

使用言語

 :

Japanese

掲載資料名

 :

巻

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号

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ページ数

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発行年月

 :

発表会議名

 :

日本物理学会2012年秋季大会(物性)

開催年月

 :

2012/09

開催都市

 :

横浜

開催国

 :

日本

キーワード

 :

no keyword

特許データ

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PDF

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論文URL

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研究データの公開先DOI

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使用施設

 :

SPring-8(大型放射光施設)

広報プレスリリース

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