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イオンビーム照射による出芽酵母の突然変異誘発に関する研究

Study on ion beam induced mutagenesis in ${it Saccharomyces cerevisiae}$

松尾 陽一郎*; 泉 佳伸*; 長谷 純宏; 野澤 樹; 坂本 綾子; 鳴海 一成; 清水 喜久雄*

Matsuo, Yoichiro*; Izumi, Yoshinobu*; Hase, Yoshihiro; Nozawa, Shigeki; Sakamoto, Ayako; Narumi, Issei; Shimizu, Kikuo*

イオンビーム照射による出芽酵母ゲノムの大規模欠失を検出するために、原形質膜でのアルギニン透過酵素活性に関与し、近傍に重要な遺伝子を持たないため、大領域が欠失した場合でも検出が可能であると推測される${it CAN1}$遺伝子に注目した。炭素イオンビーム照射によって獲得した${it can1}$変異体100サンプルのうち1サンプルで、PCRによる増幅に違いが見られた。欠失検出マーカーを用いたPCR分析の結果、このサンプルでは、${it CAN1}$遺伝子領域が約1kbに渡って欠失していることがわかった。一方、ヘリウムイオンビーム及び$$gamma$$線照射では大規模欠失変異が確認されなかった。

no abstracts in English

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