検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

Examination of Nb$$_{3}$$Sn conductors for ITER central solenoids

ITER中心ソレノイド用Nb$$_{3}$$Sn導体の性能試験

名原 啓博; 辺見 努; 梶谷 秀樹; 尾関 秀将; 井口 将秀; 布谷 嘉彦; 礒野 高明; 高橋 良和; 松井 邦浩; 小泉 徳潔; 押切 雅幸; 宇野 康弘; 堤 史明; 中嶋 秀夫; 奥野 清; Sedlak, K.*; Stepanov, B.*; Bruzzone, P.*

Nabara, Yoshihiro; Hemmi, Tsutomu; Kajitani, Hideki; Ozeki, Hidemasa; Iguchi, Masahide; Nunoya, Yoshihiko; Isono, Takaaki; Takahashi, Yoshikazu; Matsui, Kunihiro; Koizumi, Norikiyo; Oshikiri, Masayuki; Uno, Yasuhiro; Tsutsumi, Fumiaki; Nakajima, Hideo; Okuno, Kiyoshi; Sedlak, K.*; Stepanov, B.*; Bruzzone, P.*

ITER中心ソレノイド用Nb$$_{3}$$Sn導体の性能試験を行った。定格負荷の10000サイクルの間、導体の分流開始温度はサイクル数に対してほぼ直線的に低下した。一方、70%の負荷のサイクルでは分流開始温度はほとんど低下しなかった。また、85%の負荷のサイクルでも分流開始温度はほとんど低下しなかったが、急に0.2Kも低下する現象が見られた。これは素線の何らかの大きな変形が導体内部で生じたものと考えられる。ACロスはTFコイル用導体の約4分の1に低下し、撚線のツイストピッチを短くした効果が現れた。性能試験後にサンプルを解体したところ、高磁場領域でNb$$_{3}$$Sn素線が大きく変形していることを確認した。

no abstracts in English

Access

:

- Accesses

InCites™

:

パーセンタイル:53.56

分野:Engineering, Electrical & Electronic

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.