Study on defects in H ion implanted B2 type Fe-Al alloy using slow positron beam

低速陽電子ビームを用いた水素イオン注入B2構造FeAl合金中の欠陥の研究

駒形 栄一*; 河裾 厚男; 薮内 敦*; 前川 雅樹; Batchuluun, C.*; 安田 啓介*; 石神 龍哉*; 久米 恭*; 岩瀬 彰宏*; 堀 史説*

Komagata, Eiichi*; Kawasuso, Atsuo; Yabuuchi, Atsushi*; Maekawa, Masaki; Batchuluun, C.*; Yasuda, Keisuke*; Ishigami, Ryoya*; Kume, Kyo*; Iwase, Akihiro*; Hori, Fuminobu*

鉄(48重量%)-アルミニウム合金に室温で水素イオンを310及び110/cm注入した試料を作成した。これらの合金に対し、低速陽電子ビームを用いて0.230.2keVのエネルギー範囲においてドップラー広がり測定と陽電子消滅寿命測定を行った。水素イオンの照射により、陽電子消滅Sパラメータが減少した。また陽電子消滅寿命も減少した。これらの結果は、打ち込まれた水素原子は空孔型欠陥に捕獲されていることを示している。

Fe48-at.% Al alloy were implanted with 50 keV H ions to the fluence of 310 and 110 /cm at room temperature. Positron annihilation Doppler broadening and lifetime measurements for these alloys have been carried out using slow positron beam apparatus with an energy range of 0.2 to 30.2 keV. The positron annihilation S-parameter decreased by H ion irradiation. Also the positron lifetimes for hydrogen deposited region in the alloy decreased by the irradiation. These results show that implanted H atoms were trapped by vacancy type defects.