UCrSiの低温X線構造解析

Low temperature X-ray diffraction study of UCrSi

松田 達磨; 芳賀 芳範   ; 金子 耕士   ; 目時 直人   ; 山本 悦嗣  ; 大貫 惇睦; Fisk, Z.

Matsuda, Tatsuma; Haga, Yoshinori; Kaneko, Koji; Metoki, Naoto; Yamamoto, Etsuji; Onuki, Yoshichika; Fisk, Z.

UCrSiは室温でThCrSi型の結晶構造をとるが、温度約210Kにおいて一次の構造相転移を示す。これはウランの122化合物では、唯一の構造相転移である。これまで粉末中性子回折実験の結果から、低温では三斜晶系へと転移することが明らかにされてきた。しかし、低温相の構造解析については空間群について低対称なものを仮定しており、問題が指摘されてきた。そこで、単結晶を用いたX線回折実験を行い、詳細な低温相の構造解析を行った。これらの解析結果と合わせ、関連化合物の構造パラメータとの比較を行い、構造パラメータの観点からこの系の特異性について考察を行った。

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