Ionization profile monitor (IPM) of J-PARC 3-GeV RCS

J-PARC 3GeV RCSにおける残留ガスプロファイルモニタ(IPM)

原田 寛之  ; 山本 風海   ; 加藤 新一*

Harada, Hiroyuki; Yamamoto, Kazami; Kato, Shinichi*

残留ガスプロファイルモニタ(IPM)は、周回ビームの横方向分布を観測するためにJ-PARC 3GeV RCSで使用されている。そのIPMでは、ビームがビームチェンバー内を通過する際に生成する残留イオンや電子を外部電場によって検出部であるMCPまで導き、MCPで増幅された電子をシグナルとして検出し、ビームの粒子密度に比例したシグナルより、ビームプロファイルに焼き直している。そのIPMは、外部電場の最適化に加えて、電子収集によるビームプロファイルの観測に向けた改良を行われた。この論文では改良されたIPMの現状を報告する。

Residual gas Ionization Profile Monitors (IPMs) are used in the J-PARC 3-GeV RCS for the observation of circulating transverse beam profile. In IPM system, the ions and electrons produced by the beam passing through chamber lead to Micro Channel Plate (MCP) by the external electric field, and the signals from the MCP are observed as the beam profile. The IPM system was performed an upgrade plan for the optimization of the electric fields and the observation of beam profile by the elections. This will be reported the status of upgraded IPM.