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$$^{10}$$Be-AMSにおける電離箱のパルストレースに現れるベースラインの揺らぎ

Baseline fluctuation on the pulse trace of gas ionazation chamber for $$^{10}$$Be-AMS

松原 章浩; 西澤 章光*; 三宅 正恭*; 國分 陽子   ; 石丸 恒存 

Matsubara, Akihiro; Nishizawa, Akimitsu*; Miyake, Masayasu*; Kokubu, Yoko; Ishimaru, Tsuneari

$$^{10}$$Be-AMSでは、$$^{10}$$Bと$$^{10}$$Beの分別のため$$Delta$$$$E$$電離箱の入射口に設置したガスセルを利用する。ガスセルは、$$^{10}$$Beのエネルギーよりも$$^{10}$$Bのそれを大きく損失させ、エネルギースペクトル($$Delta$$$$E$$$$_{1}$$-$$E$$$$_{Res}$$)上で双方の分別を容易にする。筆者はこの機能を調査する中で、ガスセルのガス圧${it P$_{C}$}$を通常測定時の値よりも低下させると、$$Delta$$$$E$$$$_{1}$$のパルス信号のベースラインが著しく揺らぐことを発見した。この振幅は$$^{10}$$Beの信号のパルス高の30%程度に達する。そこで分別性能の改善を目的としてその原因を調べた。揺らぎの大きさ$$sigma$$${it P$_{C}$}$依存性は、数値シミュレーション(SRIM)で得られる$$Delta$$$$E$$$$_{1}$$領域に付与する$$^{10}$$Bのエネルギー の${it P$_{C}$}$依存性によく合うことがわかった。また、検出器手前のファラデーカップで測定した電流値をもとに$$^{10}$$Bの平均入射時間間隔を評価した結果、整形されたパルス幅の時間尺度よりも十分短いことがわかった。したがって一つの可能性のある原因として、$$^{10}$$Bの多重入射による信号パルスの積み上がり、いわゆるパイルアップが挙げられる。

no abstracts in English

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