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NaI(Tl)サーベイメータの校正における$$gamma$$線の室内散乱による影響の評価

The Effect of room-scattered $$gamma$$ ray on the calibration of NaI(Tl) scintilation survey meter

星 勝也 ; 吉田 忠義 ; 辻村 憲雄  ; 石川 久

Hoshi, Katsuya; Yoshida, Tadayoshi; Tsujimura, Norio; Ishikawa, Hisashi

福島での原子力発電所事故以降、簡易で廉価な$$gamma$$線の線量当量率サーベイメータの需要が高まっている。NaI(Tl)シンチレータはエネルギー依存性をもつため、正確な測定にはエネルギー補償回路が必要となるが、廉価な測定器では補償回路を備えていないものも少なくない。本試験では、NaIサーベイメータの校正における散乱線寄与の基礎的データを取得するとともに、エネルギー補償回路の有無による室内散乱の影響の違いを明らかにする。エネルギー補償後の指示値に対する散乱線寄与率は線源高さに強く依存する。線源が床から近い場合、寄与率は距離に比例して増加した。距離の増加とともに直接線に対する散乱線の相対割合が増加するためである。線源を床から十分に離すと入射散乱線が少なくなるため距離に対する寄与率の変化は著しく緩やかになり、散乱線の影響を抑えることができる。一方、エネルギー補償前の信号の場合、距離に比例して寄与率は著しく増加した。低エネルギーほどNaIシンチレータの感度が高く、散乱線の影響を大きく受けるためである。エネルギー補償回路を持たない測定器を校正する場合は、室内散乱の影響に留意する必要がある。

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