TIARAサイクロトロンにおける重イオンマイクロビーム・高速シングルイオンヒットシステムの開発

Development of a system for heavy ion microbeam and fast single ion hit at the TIARA cyclotron

横田 渉; 佐藤 隆博; 奥村 進; 倉島 俊; 宮脇 信正; 柏木 啓次; 吉田 健一; 江夏 昌志; 横山 彰人; 加田 渉*; 神谷 富裕

Yokota, Wataru; Sato, Takahiro; Okumura, Susumu; Kurashima, Satoshi; Miyawaki, Nobumasa; Kashiwagi, Hirotsugu; Yoshida, Kenichi; Koka, Masashi; Yokoyama, Akihito; Kada, Wataru*; Kamiya, Tomihiro

日本原子力研究開発機構のTIARAサイクロトロンで開発中の重イオンマイクロビーム・高速シングルイオンヒットシステムにおいて、マイクロビーム及びシングルイオンヒットの質や利便性を向上させる技術開発を継続して行った。シングルイオンヒット位置のリアルタイム検出技術の開発では、高感度CCDカメラと光学顕微鏡を組合わせて感度と集光率の双方を高めた検出システムを構築して、シングルイオンヒットによる発光体CaF:Euからのシンチレーションのリアルタイム位置検出を可能にし、目的を達成した。また、SEM(Secondary Electron Microprobe)を用いた従来方式では2次電子放出率が低いために計測できない320MeV-Cビームの大きさを、本システムを用いた調整により約10m10mに集束することに初めて成功した。

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