Application of a linac-based slow-positron beam to total-reflection high-energy positron diffraction (TRHEPD) experiments

加速器ベース陽電子ビームの全反射高速陽電子回折(TRHEPD)実験への応用

和田 健*; 前川 雅樹; 深谷 有喜   ; 望月 出海*; 兵頭 俊夫*; 設楽 哲夫*; 河裾 厚男

Wada, Ken*; Maekawa, Masaki; Fukaya, Yuki; Mochizuki, Izumi*; Hyodo, Toshio*; Shidara, Tetsuo*; Kawasuso, Atsuo

高エネルギー加速器研究機構低速陽電子実験施設では、電子線形加速器を用いて発生させた高強度の低速陽電子ビームが、全反射高速陽電子回折(TRHEPD)研究に適用されている。専用電子線形加速器から発生した電子ビームは、タンタルコンバーターに打ち込まれ、対生成により陽電子を生ずる。陽電子の一部は、タングステンモデレーターにより熱エネルギーまで減速され、その後15kVまで加速される。陽電子ビームは、接地されたビームラインを通り、TRHEPDステーションまで磁場輸送される。陽電子は非磁場領域に解放された後、透過型の輝度増強システムを用いることにより、その輝度が1000-2000倍に増大される。その後、10kVに再加速された陽電子ビームは、接地された試料表面に入射する。最終的なビームのエミッタンスは、以前のNaベースのものとほぼ同じであるが、フラックスと輝度は著しく増大した。これにより、これまでのものに比べ約60倍の反射強度が得られるようになった。さらに、これまで観測できなかった、高次ラウエゾーンの分数次スポットを明瞭に観測できるようになった。これを用い、全反射条件下におけるSi(111)-再構成表面からのTRHEPDパターンがバルク中の原子からの寄与を含まないことを示した。

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